光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備
產(chǎn)品介紹
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備(LDT-2000-C)，主要用于測(cè)試光學(xué)元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學(xué)元件的強(qiáng)激光負(fù)載性能，應(yīng)用范圍包括光學(xué)元件激光損傷測(cè)試、體材料激光損傷測(cè)試鍍膜工藝優(yōu)化等。
| 光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備 | |
| 型號(hào) | LDT-2000-C |
| 測(cè)量波長(zhǎng) | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶定制波長(zhǎng) |
| 激光脈寬 | ~10nm |
| 最大測(cè)試激光通量 | ≥100J/cm² |
| 損傷點(diǎn)識(shí)別率 | ≥95% |
| 樣品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客戶定制 |
01
兼容多種尺寸樣品，自動(dòng)定位樣品
02
在線觀測(cè)損傷圖像
03
支持測(cè)試方式”1 ON 1"、“R ON 1”、"S ON 1”
04
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：ISO 21254
05
自動(dòng)化測(cè)試流程，自動(dòng)計(jì)算損傷閩值
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