工業(yè)應(yīng)用設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備
科學(xué)儀器及定制化解決方案
激光共聚焦顯微鏡
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)版)
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)化版)
深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x
激光量熱吸收測(cè)量?jī)x
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備
多模態(tài)表面缺陷檢測(cè)儀
亞表面缺陷檢測(cè)儀
光學(xué)透反射率測(cè)量?jī)x
大口徑元件吸收缺陷檢測(cè)儀
大口徑元件散射缺陷檢測(cè)儀
大口徑元件缺陷多模態(tài)檢測(cè)儀
大口徑元件高透/反射率測(cè)量?jī)x
其他定制設(shè)備
01
多光譜智能透鏡外觀檢測(cè)儀
多光譜智能透鏡外觀檢測(cè)儀(AOSI-4000S)，主要用于各類光學(xué)元件、光學(xué)晶體、光學(xué)陶瓷的全自動(dòng)表面質(zhì)量檢測(cè)。 本設(shè)備自動(dòng)化程度高，批量上料，自動(dòng)送檢，智能檢測(cè)，根據(jù)檢測(cè)結(jié)果智能分揀，并生成統(tǒng)計(jì)日志。檢測(cè)結(jié)果可根據(jù)需求進(jìn)行保存，保證檢測(cè)結(jié)果可溯源性。
Read more
02
半自動(dòng)智能透鏡外觀檢測(cè)儀
半自動(dòng)智能透鏡外觀檢測(cè)儀(OSI-4000S)，主要用于光學(xué)透鏡的外觀質(zhì)量檢測(cè)，具有整盤上下料、自動(dòng)檢測(cè)、標(biāo)準(zhǔn)選擇或自定義、自動(dòng)判斷OK/NG、結(jié)果輸出等功能。 設(shè)備配備特殊設(shè)計(jì)的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，針對(duì)透鏡元件復(fù)雜多變的面型和鍍膜工藝，高靈敏度的檢出包括劃痕、麻點(diǎn)在內(nèi)的各類外觀缺陷，相比人工具備可靠的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
Read more
03
平面元件缺陷檢測(cè)設(shè)備
平面元件外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備(AOSI-4000F)主要用于平面光學(xué)元件的全自動(dòng)外觀質(zhì)量檢測(cè)，具有自動(dòng)化程度高，批量上下料，自動(dòng)傳送，智能檢測(cè)，根據(jù)檢測(cè)結(jié)果智能分選，并生成每個(gè)元件的檢測(cè)報(bào)告。設(shè)備可生成檢測(cè)日志，按不同時(shí)間周期進(jìn)行元件檢測(cè)數(shù)量、缺陷檢測(cè)類型比例等條件進(jìn)行日志生產(chǎn)，觀察生產(chǎn)良率變化，對(duì)生產(chǎn)工藝改進(jìn)做出指導(dǎo)。
Read more